2007年6月7日，“全国纳米技术标准化技术委员会扫描探针显微镜标准化工作组（SAC/TC279/WG1）(简称：SPM工作组)第二次工作会议”在京召开。全国纳米技术标准化技术委员会（简称：纳米标委会）沈电洪副主任委员、中国计量研究院高思田研究员、英国利兹大学Terence A Wilkins教授、中国科技大学黄文浩教授、SPM工作组和纳米标委会秘书处成员出席了本次工作会议。此外，美国安捷伦公司、日本精工、美国维易科公司、上海卓伦公司等派代表参加了本次会议。会议由SPM标准化工作组秘书长孙洁林主持。 

　　Wilkins教授介绍了纳米微加工领域的研究进展以及国际标准在纳米产业发展中的重要性。沈电洪副主任委员简要介绍了国际ISO/TC229及ISO/TC201的工作情况。国家纳米科学中心江潮研究员介绍了国家重大研究计划“纳米检测技术标准化”项目的进展情况。随后，高思田研究员针对纳米检测技术的国际比对和量值溯源做了详细的介绍。黄文浩教授具体介绍了ISO/TC201/SC9 SPM工作组的工作现状及未来工作计划。 
　　
　　与会委员与代表们围绕着SPM标准化工作与SPM产业发展的关系以及如何积极参与国际标准化活动进行了热烈的讨论，并对SPM标准化工作组的具体工作计划提出了意见和建议。 (Gaojie)