检测实验室明天在科研楼阶梯教室举办“第四届国家纳米科学中心表面分析技术交流研讨会”，8:50-17:00，主要围绕 X 射线光电子能谱的应用和数据分析，邀请了国内知名专家前来报告，会议日程如下。
会议期间有公司提供美国XOS 型号的XRF， 给中心师生提供免费测试服务， 地点在科研楼三层走廊尽头，欢迎大家带样品来测试。
欢迎感兴趣的老师和同学前来参与。
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报告时间（10.30） |
报告专家 |
报告题目 |
主持人 |
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8:50-9:00 |
纳米中心领导致辞 | ||
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9:00-10:00 |
盛世善 |
表面分析仪器发展与展望 |
徐鹏 |
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10:00-10:30 |
吴正龙 |
XPS分析基础 | |
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10:30-10:40 |
茶 歇 | ||
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10:40-11:10 |
姚文清 |
XPS 在材料表界面反应行为中的应用 |
徐鹏 |
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11:10-11:40 |
郭沁林 |
水在氧化物表面的吸附 | |
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11:40-12:00 |
刘雨溪 |
挥发性有机物催化燃烧研究中的XPS数据应用 | |
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午 餐 | |||
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13:30-14:00 |
刘 芬 |
表面化学分析标准化与分析测试 |
吴正龙 |
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14:00-14:30 |
赵志娟 |
导电固体材料逸出功测量的电子谱方法比较研究 | |
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14:30-15:00 |
周 雄 |
近常压表征在模型催化中的应用 | |
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茶 歇 | |||
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15:00-15:30 |
谢景林 |
XPS 数据分析案例 |
盛世善 |
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15:30-16:00 |
邱丽美 |
XPS 分析催化剂时的常见问题 | |
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16:00-16:30 |
葛青亲 |
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报告时间（10.31） |
报告人 |
报告题目 |
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9:00 -9:30 |
程斌 |
高分子有机物的鉴别 |
徐鹏 |
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9:30-11:00 |
寿林 |
XPS 仪器维护相关 | |
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14:00-16:00 |
盛世善 |
XPS 数据分析及常见错误 | |
