在中国科学院仪器设备功能开发技术创新项目支持下，技术人员设计了一款通用样品台，在自行开发的定位软件控制下，可实现同一样品位点在不同显微设备间的原位表征。
利用该技术，获得了WSe2纳米片材料指定部位在拉曼、光镜、SEM设备上的原位表征结果（下图）。
该技术还可拓展至共聚焦显微镜等其他显微设备。
