绝缘体样品是扫描电镜（SEM）观察和聚焦离子束（FIB）加工比较常见的样品。样品在电子束或离子束辐照下，容易产生荷电效应，从而导致图像质量恶化或影响加工过程。针对该类样品，技术人员开了一种无需镀膜即可实现绝缘样品观察或加工的技术。

例如，聚酰亚胺材料的绝缘等级为最强级H级，在其表面进行FIB加工以及SEM观察一直都存在较大难度。利用该技术，可对聚酰亚胺上的Pt膜结构直接加工。

聚酰亚胺上的Pt膜的SEM图像及加工截面

 该技术具有普适性，其他绝缘样品的FIB加工结果如下：

光纤端面上FIB加工的结构

PDMS膜上FIB加工100nm以下的点阵结构