通知公告

台式X射线吸收精细结构谱(XAFS)技术及应用培训通知

发布时间:2026-05-15 | 【打印】 【关闭】

为促进XAFS技术在材料科学、纳米研究等领域的深入应用,推动实验室级高品质XAFS检测与分析能力的普及,国家纳米科学中心定于近期举办专题技术讲座。现将有关事宜通知如下:


一、会议时间  

2026年5月19日(星期二) 09:00-16:30


二、会议地点 

国家纳米科学中心5号楼三层第六会议室


三、会议内容

本次会议将围绕台式XAFS技术的前沿发展、核心原理、实验规范及实际操作进行系统讲解与演示,具体议程如下:


时间

环节

内容要点

主讲人

08:30-09:00

签到

09:00-09:50

技术原理讲解

XAFS技术原理与数据处理精讲

国创科仪公司

10:00-10:50

专家特邀报告

主题:XAFS在能源催化研究中的应用探讨

中科院化学所胡劲松研究员

11:00-11:40

实验规范讲解

主题:XAFS检测中的样品要求与质量控制

国创科仪公司

11:50-13:30

午餐/休息

13:30-15:00

设备实操演示

结构介绍→操作流程→现场样品测试演示

国创科仪公司

15:00-16:30

互动/答疑

自带数据/样品问题集中解答

国创科仪公司


四、参会对象

对XAFS技术感兴趣的研究人员、研究生、实验室技术人员及相关领域学者。


五、其他说明 

- 本次会议不收取会务费,为保证培训效果,限五十个名额,请扫码报名。

- 欢迎参会人员自带数据或样品参与互动答疑环节。  

六、联系方式

联系人: 徐鹏  xup@nanoctr.cn

国家纳米科学中心

2026511