球差校正透射电子显微镜凭借其极高的空间分辨率，能够直接观察材料的原子级结构，是表征亚纳米及原子尺度微观形貌与晶体结构的决定性手段。在对亚纳米二硫化钼/二硫化钨进行测量中，该技术为确认材料的极限尺寸提供了关键证据：通过直接观测，清晰揭示了所制备的亚纳米二硫化钼/二硫化钨的精确尺寸，其横向尺寸分别约为0.44 nm和0.47 nm，厚度约为0.55 nm和0.61 nm。该测量结果验证了三元协同球磨方法可高效、可控制备亚纳米尺度材料的有效性。
图a和c分别是亚纳米MoS2和WS2的HAADF-STEM图像；图b和d是 MoS 2和WS2相应横向尺寸分布。（Nano Today (2024, 54, 102126)）
