氧化钼（MoOₓ）纳米材料因其在光电、催化、传感及能源等领域的应用潜力而备受关注，其性能与晶体结构和化学计量比密切相关。然而，由于对其本征力学行为，尤其是变形机制的认知局限大大限制了其应用。为解决这个问题，技术人员基于聚焦离子束/扫描电镜双束系统（FIB/SEM）和原子力显微镜（AFM)开发了一种表征MoOₓ纳米线力学行为的方法。该方法利用双束系统的SEM功能对高质量单晶MoO₂纳米线及其截面形貌、尺寸进行表征，获取其几何参数；并利用聚焦离子束将悬空的纳米线固定在衬底上；之后，使用AFM对其进行压痕实验，从而获得纳米线的杨氏模量。此外，利用双束系统还可制备透射电镜（TEM）样品，为分析其晶体结构提供支撑。

MoO₂纳米线杨氏模量的测定。

(左图)利用FIB固定待测纳米线；(右图)力随着压痕深度的变化曲线。

（Nano Research,2025,18,94907506）