X射线显微镜能够在不损伤样品的前提下，对样品进行亚微米级三维成像，其最高空间分辨率可达0.7 μm，在生物、地质、材料、电子半导体失效分析等领域具有广泛应用。

    该成像系统用于文物保护与鉴定的结果如图所示。利用该设备对唐代乌纱帽文物碎片的漆层和纤维结构、品质和保存情况进行了表征。成像结果显示，其植物纤维已经完全腐化，金属部分基本腐蚀殆尽，仅留下部分颗粒残留，但其漆层结构得以保留。该结果为相关文物研究课题提供了有力的技术支撑。

唐代乌纱帽文物碎片的三维成像