2026年5月19日，“台式X射线吸收精细结构谱（XAFS）技术及应用培训”专题技术讲座在国家纳米中心成功举办，吸引了来自中心、科研院所和高校的60余名师生及相关领域学者的积极参加和热烈讨论。本讲座旨在促进X射线吸收精细结构谱（XAFS）技术在材料科学、纳米研究等前沿领域的广泛应用，推动实验室级高品质XAFS检测与分析对科研工作的技术支撑。

首先，纳米技术发展部主任董凤良研究员致辞，对与会专家与学员表示欢迎，并希望此次培训能让大家对XAFS技术和台式XAFS仪器有更深入的理解，同时希望包括台式XAFS仪器在内的技术平台设备可以为大家的高水平科研成果提供高质量技术支撑。培训内容主要包括台式XAFS的技术发展、技术原理、前沿应用、实验操作及技能。

上午的培训围绕XAFS技术原理及前沿应用展开。国创科学仪器（苏州）有限公司（以下简称“国创科仪”）的专家对XAFS技术原理与数据处理方法进行了系统讲解，帮助参会人员夯实理论基础。